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MKP2000 电容器老化ω测试系统

MKP2000 电容器老化◣测试系统

MKP2000 电容器老化测试系统

该系统针↓对各种电容器进行高温高电压漏电流测试、高低温容量测试、阻抗测试（TR）。该设备具有测试精◇度高、试验有效性可靠、大量规模老化等优点，并提供MLCC（0402以上）贴片∩电容的快速装载治具。

产品特点

1. nA级★漏电流测试
2. 可根据不同器件封装进行ζ快速装载
3. 可根据不同器件封装、功率等要求，定制专用√老化测试板↙

适用标准

AEC-Q200
美军标
MIL-STD-202
GJB360

适用器件

MLCC电容
电解电容
瓷介
钽电容
CBB
芯片电容等

产品特性

试验通道：16/32/40/80
试验温区：1/2 （室温+10℃~200℃）
试验湿度：25%~98%RH
MAX工位数：1680位 /通道
漏电流范围：10nA~50mA
试验电压：3V~4500V
高低温阻◣抗测试（TR）： ≧ 1010Ω
接地电阻：≦1Ω
整机供电：三相AC380V±38V
最大功率：8kW
整机重量：700kg
老化板△尺寸：280mm×580mm
整机尺寸（WXDXH）：1400mm X 1400mm X 2100mm

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