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追求科技进步、振兴民族产业
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可靠性测试设备
GPIC2000 通用集成电路老化测试系统
GPIC2000 通用集成电路老化测试系统
该系统采用TDBI技术,可进行试验室温+10℃~150℃的HTOL高温动态老化,老化过程中实时监测@被测器件的输出信号ξ 频率,工作电流变化。检测PIN脚数容量2560~7680,适应各种DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO等封装根据不同器件封装、功♂率等要求定制专用老化测『试板卡。
产品特点
1. 实时监测被测器件的信号及电流状态,自动对比过程向量
2. 检测PIN脚数容量2560~7680,全面适应各种封装标准
3. 可根据不同器件封装、功率等要求,定制专用老化测试板
适用标准
JESD22A-108
AEC-Q101
GJB548B
MIL-STD-883
适用器件
VLSI
LSI
MSI
SSI等
各种模拟电路
数字电路
数模混合
光电耦合器
可编程门阵列
可编程逻辑电路
非标集成板卡等
产品特性
试验温区:1个/2个
试验温度:3 室温+10℃~150
向量发生单元:16组/32组/48组
老化测试区:16层/32层/48层
信号频率:10M
数字信号通道数:64路
模拟信号通道:4路
向量深度:16M行
接地电阻:≦1Ω
整机供电:三相AC380V±38V
最大功率 :40kW
整机重量:1200kg
老化板尺寸:280mm×580mm
整机尺寸(WXDXH):1770mm X 1350mm X 1950mm
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杭可仪器
手机:
19157911101
座机:
0571-86451253
QQ:
3434810182
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