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可靠性测试设备

GPIC2000 通用集成电路老化测试系统

该系统采用TDBI技术，可进行试验室温+10℃~150℃的HTOL高温动态老化，老化过程中实时监测＠被测器件的输出信号ξ　频率，工作电流变化。检测PIN脚数容量2560~7680，适应各种DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO等封装根据不同器件封装、功♂率等要求定制专用老化测『试板卡。

产品特点

1. 实时监测被测器件的信号及电流状态，自动对比过程向量
2. 检测PIN脚数容量2560~7680，全面适应各种封装标准
3. 可根据不同器件封装、功率等要求，定制专用老化测试板

适用标准

JESD22A-108
AEC-Q101
GJB548B
MIL-STD-883

适用器件

VLSI
LSI
MSI
SSI等
各种模拟电路
数字电路
数模混合
光电耦合器
可编程门阵列
可编程逻辑电路
非标集成板卡等

产品特性

试验温区：1个/2个
试验温度：3 室温+10℃~150
向量发生单元：16组/32组/48组
老化测试区：16层/32层/48层
信号频率：10M
数字信号通道数：64路
模拟信号通道：4路
向量深度：16M行
接地电阻：≦1Ω
整机供电：三相AC380V±38V
最大功率：40kW
整机重量：1200kg
老化板尺寸：280mm×580mm
整机尺寸（WXDXH）：1770mm X 1350mm X 1950mm

杭可仪器

手机:
19157911101
座机:
0571-86451253

QQ:
3434810182