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                杭可仪器
                产品一览 产品一览
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                杭可仪器 杭可仪器 杭可仪器 产品一览 杭可仪器 可靠性测试设备 杭可仪器 HTRB2000 / HTGB2000 高温反偏/栅偏 老化测试系统
                HTRB2000 / HTGB2000 高温反偏/栅偏 老化测试系统
                HTRB2000 / HTGB2000 高温反偏/栅偏 老化测试系统
                该系统针对半导体器件进行高温反偏(HTRB)、高温栅偏(HTGB)试验。提升固有质量可靠性、激发缺陷扩散。
                产品特点
                1. nA级漏电流测试
                2. 可●根据不同器件封装、功率等要求,定制专用老化测试板
                适用标准
                JESD51-1
                AEC-Q101
                GJB128A
                MIL-STD-750
                JESD22A-108
                JESD22A-101
                适用器件
                二极管
                MOSFET
                IGBT
                CMOS
                IPM等功率器件
                产品特性
                试验通道:16/32
                试验温区:1/2 (室温+10℃~200℃)
                试验湿度:25%~98%RH
                MAX工位数:256 /1280/2560
                漏电流范围≡:10nA~30mA(HTRB)
                漏电流范围:1nA~3mA(HTGB)
                试验电压:10V~4500V(HTRB)
                试验电压:±30V(HTGB)
                接地电阻: ≦1Ω
                整机供电:三相AC380V±38V
                最大功率:12kW
                整机重量:700kg
                老化板尺寸:280mm×580mm
                整机尺寸(WXDXH):1400mm X 1400mm X2100mm
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