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可靠性测试设备◆

杭可仪器

MFS2000 分立器件综合老化测试◥系统

MFS2000 分立器々件综合老化测试系统

MFS2000 分立【器件综合老化测试系统

该系统可针对中小功率分立器件进行功率老化筛选，该∮设备覆盖电子元器件广、通用性强。在众多元器件生】产厂家、第三方实验室广泛应用。

产品特点

1. 通用分立器件老化测试
2. 可根据不同器件封装、功率等要求，定制专用老化测试板

适用标准

JESD22A-108
AEC-Q101
GJB128A
MIL-STD-750

适用器件

电阻
电感
二极管
三极管
大功率管
微波管
LED
TVS等

产品特性

试验温区：1个/2个
试验模式：风冷/高温+10℃~200℃
试验风道：1组对2试验通道
试验通道：64/80位
恒流源：2A /8路
MAX试验电压：600V
静电防护：二级
接地电阻：≦1Ω
整机供电：三相AC380V±38V
最大功率：10kW
整机重量：680kg
老化板尺寸：280mm×580mm
整机尺寸（WXDXH）：1400mm X 1400mm X 2100mm

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