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LSIC2001 超大规模集成电路测试系统

LSIC2001 超大规模集成电路测试系统

LSIC2001 超大规模集成电路测试系统

该系统采用TDBI技术，可进行〗室温-10℃~150℃的HTOL老化测试，老化过程中实时监⌒　测被测器件的输出信号，自动对比向量，有效排查“伪老化”。可对被测器件进行50~150℃壳温控制，整机耗散功率最大可达8kW。

产品特点

1.实时监测被测器件的信号及电流状态，自动对比过程向量
2.选用硬公制高速连接器，大幅提高测试信号完整性
3.可々根据不同器件封装、功率等要♀求，定制专用老化测试板
4.采用专用大电流连接器，具有高可靠性、稳定性MTBF大于20000小时

适用标准

JESD22A-108
AEC-Q101
GJB548B
MIL-STD-883

适用器件

通用集成电路
存储器
GPU
FPGA
ARM
DSP
数模转化器
模数转换器等

产品特性

试验温区：1个/2个
试验温度：室温-10℃~150℃
向量发生单元：16组
老化测试区：16层
信号频率：25M(128路)
信号通道数：128路双向
向量深度：16M行
DPS电源：0.5~6.25V/25A(6路) (可选配10V/12A)
壳温测控：8位
接地电阻：≦1Ω
整机供电：三相AC380V±38V
最大功率：40kW
整机重量：1600kg（带制冷）
老化板尺寸：290mm×580mm
整机尺寸（WXDXH）：1800mm X 1450mm X 2400mm

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