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                杭可仪器
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                杭可仪器 杭可仪器 杭可仪器 Products 杭可仪器 Burn-in & Test System 杭可仪器 MKP2000 电容器老化测试系统
                MKP2000 电容器老化测试系统
                MKP2000 电容器老化测试系统
                该系统针对各种电ω容器进行高温高电压漏电□ 流测试、高低温容量测试、阻抗测试(TR)。该设备具有测试精度高、试验有效性可靠、大量规模老化等优点,并提供MLCC(0402以上)贴ㄨ片电容的快速装载治具。
                Features
                1. nA级漏电流测试
                2. 可根据不同器件封装进行◣快速装载
                3. 可根据不同器件封装、功率等要求,定制专用老化测试板
                Applicable standards
                AEC-Q200
                美军标
                MIL-STD-202
                GJB360
                Applicable device
                MLCC电容
                电解电容
                瓷介
                钽电容
                CBB
                芯片电容等
                Product Features
                试验通道:16/32/40/80
                试验温区:1/2 (室温+10℃~200℃)
                试验湿度:25%~98%RH
                MAX工位数:1680位 /通道
                漏电流范围:10nA~50mA
                试验电压:3V~4500V
                高低温阻抗测试(TR): ≧ 1010Ω
                接地电阻:≦1Ω
                整机供电:三相AC380V±38V
                最大功率:8kW
                整机重量:700kg
                老化板尺寸:280mm×580mm
                整机尺寸(WXDXH):1400mm X 1400mm X 2100mm