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                杭可仪器
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                GPIC2000 通用集成电路老化测试系统
                GPIC2000 通用集成电路老化测试系统
                该系Ψ统采用TDBI技术,可进行试验室温↘+10℃~150℃的HTOL高温动态老化,老化过程中实时监测被测器件的输出信↑号频率,工作电流变化。检测PIN脚数容量2560~7680,适应各种DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO等封装根据不同器件封装、功率等要求定制专用老化测卐试板卡。
                Features
                1. 实时监测被测器件的信号及电流状态,自动对比过程向量
                2. 检测PIN脚数容量2560~7680,全面适应各种封装标准
                3. 可根据不同器件封装、功率等要求,定制专用老化测试板
                Applicable standards
                JESD22A-108
                AEC-Q101
                GJB548B
                MIL-STD-883
                Applicable device
                VLSI
                LSI
                MSI
                SSI等
                各种模拟电◆路
                数字电路
                数模混合
                光电耦合器
                可编程门阵列
                可编程逻辑电路
                非标集成板卡等
                Product Features
                试验温区:1个/2个
                试验温度:3 室温+10℃~150
                向量发生单元:16组/32组/48组
                老化测试区:16层/32层/48层
                信号频率:10M
                数字○信号通道数:64路
                模拟〗信号通道:4路
                向量深度:16M行
                接地电阻:≦1Ω
                整机供电:三相AC380V±38V
                最大功率 :40kW
                整机重量:1200kg
                老化板尺寸:280mm×580mm
                整机尺寸(WXDXH):1770mm X 1350mm X 1950mm