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                杭可仪器
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                杭可仪器 杭可仪器 杭可仪器 Products 杭可仪器 Burn-in & Test System 杭可仪器 LSIC2000 超大规模集成电路测试系统
                LSIC2000 超大规模集成电路测试系统
                LSIC2000 超大规模集成电路测试系统
                该系〗统采用TDBI技术,可进行室温+10℃~150℃ HTOL老化测试,老化过程中实时监测被测器件的@ 输出信号,过程中自动对比向量。老化系统采用技术先进的可调稳压大功率二次电源,能量转化效率大于95%以上。
                Features
                1.实时监测被测器件的信号及电流状态,自动对比过程向量
                2.选用硬公制高速连接器,大幅提高测试信号完整性
                3.可根据不同器件封装、功率等要求,定◢制专用老化测试板
                4.采用专用大电流连接器,具有高可靠性、稳定性MTBF大于20000小时
                Applicable standards
                JESD22A-108
                AEC-Q101
                GJB548B
                MIL-STD-883
                MIL-STD-38510
                Applicable device
                通用集成电路存储器
                FPGA
                ARM
                DSP等超大规模集成电路↙
                Product Features
                试验温区: 2个
                试验温度: 室温+10℃~150℃
                向量发生单元:16组
                老化测试区:32 层
                信号频率 :10M(160路) 20M(32路)
                信号通↓道数:160路(驱动)+24路(双向IO)
                向量深度:16M行
                循环时间:100~655350ns
                DPS电源:0.5~6.25V/25A(6路) 0.5~10V/12A(2路)
                信号驱动电流:160路≧100mA ;32路≧50mA
                接地电阻:≦1Ω
                整机供电:三相AC380V±38V
                最大功率 :35kW
                整机重量 :1500kg
                老化板尺☉寸:450mm×570mm
                整机尺寸(WXDXH):3000mm X 1600mm X 2280mm