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                杭可仪器 杭可仪器 杭可仪器 Products 杭可仪器 Burn-in & Test System 杭可仪器 LSIC2001 超大规模集成电路测试系统①
                LSIC2001 超大规模集成电路测试系统
                LSIC2001 超大规模集成电路测试系统
                该系统采用TDBI技术,可进◥行室温-10℃~150℃的HTOL老化测试,老化过程中实时监测被测器件的★输出信号,自动々对比向量,有效排查“伪老化”。可对被测器件进行50~150℃壳温控制,整机Ψ耗散功率最大可达8kW。
                Features
                1.实时监测被测器←件的信号及电流状态,自动→对比过程向量
                2.选用硬公制高速连接器,大幅提高测试信号〖完整性
                3.可根据不同器◥件封装、功率■等要求,定制专用老化测试板
                4.采用专用大电流连接♂器,具有高可靠性、稳定性MTBF大于20000小时
                Applicable standards
                JESD22A-108
                AEC-Q101
                GJB548B
                MIL-STD-883
                Applicable device
                通用集成电路
                存储器
                GPU
                FPGA
                ARM
                DSP
                数模转化器
                模数转换器等
                Product Features
                试验温区:1个/2个
                试验温度:室温-10℃~150℃
                向量发生单元:16组
                老化测试区:16层
                信号频率 :25M(128路)
                信号通〇道数:128路双向
                向量深度:16M行
                DPS电源:0.5~6.25V/25A(6路) (可选配10V/12A)
                壳温测控:8位
                接地电阻:≦1Ω
                整机供电:三相AC380V±38V
                最大功率:40kW
                整机重量:1600kg(带制冷)
                老化板尺寸:290mm×580mm
                整机尺寸(WXDXH):1800mm X 1450mm X 2400mm